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中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会在我所成功召开

  • 2018-11-15
  • 来源:重点实验室
  • 供稿人:张战刚
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10月31至11月2日,中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会学术盛会于在我所召开。本次大会由中国电子学会可靠性分会和电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室联合主办,大会主题为“用质量可靠性筑牢科技强国中国梦”。大会编辑出版的《中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集》收录了论文61篇,论文作者单位覆盖航天、航空、航海、高校、研究所、企业等相关机构。经大会组织同行专家评审,共评选出口头报告17篇,优秀论文6篇。

本次会议聚焦可靠性前沿技术及展望、失效模式及失效机理、可靠性、环境适应性试验与评价、可靠性设计与仿真试验及安全性、测试性、保障性及故障诊断等领域的最新科技研究成果,为来自学术界、工业界和政府机构的100余名专家学者、行业精英、工程技术人员和在校学生搭建交流平台,为高可靠产品的产、学、研、用协同创新提供便捷的交流机会。

大会共设主题报告、作者论文报告、工业行业可靠性研讨会、优秀论文颁奖等环节。大会主席由中国工程院院士刘人怀担任,程序委员会主任为我所副所长王蕴辉、电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室常务副主任恩云飞。11月1日上午,我所王蕴辉副所长致欢迎辞后,国际知名专家唐民研究员、恩云飞研究员、黄洪钟教授和陈循教授分别作了《宇航用元器件保证方法及改进需求》《集成电路硬件安全威胁与应对》《智能制造装备及其可靠性关键技术》《机电产品加速退化试验中的若干问题思考》等精彩的主题报告。11月1日下午,17名作者作了精彩的口头报告,与参会代表交流讨论了最新研究成果,主持人冯士维教授与可靠性分会委员共同为优秀论文作者颁发了获奖证书。同时,会议还组织了工业行业可靠性研讨会分论坛,来自北航、华工、中航、中船、格力、商飞等单位的代表共同交流研讨了重点行业可靠性工作开展和标准建设情况。