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2011年6月17～20日，2011年IEEE质量、可靠性、风险性、维修性及安全性国际学术会议在西安召开，此次会议由电子科技大学、中国兵工学会和IEEE可靠性学会共同主办，电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室和西北工业大学协办。会议旨在推进“质量、可靠性、维修性以及工程系统安全性”方面的学术交流，促进研究成果在实践中的应用，并展示最先进的工业技术进展，进一步提高我国可靠性研究的国际学术地位。包括国内外学术界公认知名专家学者、企业界代表以及青年科技工作者共约150余人参加了会议。

 恩云飞常务副主任在大会上做了《集成电路失效分析技术及挑战》的主题报告，报告围绕集成电路的发展及其对失效分析的要求、失效分析技术的发展及其应对措施展开，并就重点实验室在失效分析技术和工程应用领域取得的成就进行了汇报。报告获得了与会人员的广泛关注与好评，许多企业界和学术界的参会代表会后纷纷与恩主任进行交流，表达了进一步合作的愿望。此外，重点实验室王力纬博士、林晓玲博士等5位同志分别在故障诊断技术、可靠性试验与分析技术、网络可靠性、数据收集与分析等专题做了大会宣讲，通过与参会专家学者的沟通、交流，学到了知识，开拓了视野，得到了良好的锻炼。

（重点实验室）