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      集成电路（IC）的电磁环境可靠性，也叫集成电路的电磁兼容性，是衡量IC器件在预定电磁环境下工作时是否会对其他器件的工作产生骚扰，同时自身性能是否会受到其他器件所骚扰的一个指标。对于集成电路来说，这个指标的提出是电子产品电磁环境高可靠设计的需求，同时也是芯片集成度日益增高时电磁环境可靠性问题越来越突出以致直接关系到芯片性能的结果。

      集成电路的电磁环境可靠性测试是一个相对较新的领域，尽管对于电子设备及系统已经有了较详细的电磁环境相关的标准，但是对于集成电路来说，其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47A技术分委会（IEC SC47A）在1990年就开始致力于这方面的研究，此外，北美的汽车工程协会（SAE）、德国电气电子信息工程师协会（VDE）也在陆续制定自己的集成电路电磁兼容性测试标准。1997年，IEC SC47A下属的第九工作组WG9成立，专门负责集成电路电磁环境可靠性测试方法的研究，通过参考各国的建议，至今相继出版了频率在150kHz－1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967以及集成电路电磁抗扰度测试标准IEC62132，此外，还有IEC62215集成电路脉冲抗扰度测量等等。

      IEC61967提供了TEM小室法、表面扫描法、1Ω/150Ω直接耦合法、法拉第笼工作台法对集成电路的电磁发射情况进行测试。TEM小室法非常适用于集成电路制造商评估芯片管芯的设计以及封装对电磁辐射发射的影响，但是需要制作专门的测试板，以确保不同设计者和生产商导致的测试结果差异最小，并且实现可重复性的测试；表面扫描法利用电场探针、磁场探针或电磁场探针来扫描集成电路表面的近电/磁/电磁场分布，该方法能非常准确地定位集成电路封装内电磁辐射量过大的区域，适用于对集成电路不同设计方案的电磁发射特性进行比较；1Ω/150Ω直接耦合法主要用来测试射频电流以及引脚的射频电压，该方法可以用来比较不同集成电路的电磁发射特性；法拉第笼工作台法提供良好的屏蔽环境，可以用来测试电源线和输入输出信号线上的传导骚扰噪声。

      IEC62132则提供了TEM小室法用于测量电磁辐射抗扰度，并提供了大电流注入法、功率直接注入法、法拉第笼工作台法用于测量传导抗扰度。大电流注入法利用电流钳注入骚扰RF电流，功率直接注入法利用隔直电容从引脚处注入RF前向功率，通过实时监测芯片的工作状态，最终实现对芯片抗扰度的评估，注入信号的频率范围分别取决于注入电流探头和注入网络的性能。

      目前，日本VCCI、欧盟、韩国MIC等等都在积极参与集成电路电磁环境可靠性测试可行性的评估。我国的一些集成电路企业也在尝试进行IC产品的电磁环境可靠性测试，国内相关标准呼之欲出，这个领域必将越来越受到企业的关注。

                                                        （重点实验室）